离子污染检测仪此设备可进行加热、萃取溶液扰动，去除并准确测量从电路板制造和电路板组装两个不同方面产生的工业残余的污染结果，对电子元器件、电路板裸板和装配板及SMT器件装配板测试，符合MIL-STD-2000A、IPC-TM-650、ANSI/J-STD-001B工业标准。

■操作原理：
SMD600离子污染测试仪通过监控混合液中所含离子的电阻大小从而得出所所含离子的数量。
在测试的开始时，系统的检测器和记录器会根据测试槽内最初的离子含量建立一个基准数据，然后计算在测试的过程中增加的离子量，当所有的离子溶解入测试液中时，就可达到一个平衡的数值。在测试通孔的板时，这些操作大约需要5-10分钟，测试SMD的板时，大约需要30-45分钟。
测试结素后，最后的离子含量水平，会编成一份微观图，包括NaCl/sq.inch 、测试的参数以及根据设定的标准是否合格情况，在进行下一次测试之前，通过仪器内的除离子系统清洁测试液，从而达到再生的功能，并且建立新的基准水平。

■   主要特点：

·紧凑独立、微处理器控制的精确可重复性的系统

·简单友好的操作界面，数据库可储存30个测试样品数据
·自动测试终止，污染曲线及测试参数的打印输出
·加热测试溶液改良污染物的溶解度
·测试腔内淹没式喷射增加溶液渗透
·高速测试溶解循环泵
·可互换的测试腔体从 8"x8"到26"x26"