发展方向
与传统 ICT 不同，这种测试法能方便地扩展到有源器件的全加电测试，这种扩展也包括 ATPG 。有源器件的参数变化同样可以很容易地仿真，并确定明确的区域。注意，测试一个线路并不需要知道电路的关键参数，只需了解联机布局即可。如果电路节点电压不在合格区域内，而电路装配是正确的，那么一定有器件值超出容限范围。
关键参数必须藉由设计来保证，或经功能测试来筛选。几乎所有关键参数都能表示为某些节点电压的函数，因而可大大减少所需的功能测试数量。
与标准兼容
采用数字电路边缘连接器功能测试来生成和开发有效的诊断，费用很高。在数字节点的接触受到限制时，需采用数字边界扫描 (IEEE1149.1) 技术。用于模拟测试的一个类似标准 (P1149.4) 也正在出现。该标准确定了一种藉由 AT1 总线为 P1149.4 兼容器件的管脚分配电流激励的方法，以及藉由 AT2 总线测量管脚电压的方法 ( 图 5) 。
图 5 ：所述的受限接触点测试技术与 P1149.4 标准相符，并且大大扩展了器件周围以及器件之间可测试的网络范围。
在图 5 中，只要测试系统所采用的电流源不与电流规范一致，则开关电阻就不会有什么影响。将开关电阻与电压表输入阻抗串联，一般不会影响测量。
物理探测节点的减少并不意味着将会倒退到模拟功能测试，无法形成有效的诊断。虽然还远不能替代传统 ICT ，但是可以看到，在少得令人惊奇的探测节点上仍然能够获得有意义的结果。如果因测试点选择的困难而得不到明确结果，那么诊断组内的器件数目就要更少一些。