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SMT测试专题-解决ICT的受限接触点问题

放大字体  缩小字体 发布日期:2009-12-08  浏览次数:1044

Δ V1=V1-V1 \/\/noia\/\/ Δ V2=V2-V2 \/\/noia\/\/ Δ V3=V3-V3 \/\/noia\/\/ 

首先让我们来看一下,当激励源 I 保持恒定,而器件可以在整个允许误差范围内变动时,该电路的表现情况。这里的范围可以很容易地由任何标准仿真套件来制定,如能进行 Monte Carlo 分析的 HSPICE 。如果从每个仿真的Δ V 值减去标定电压,可以将每次仿真结果的值绘制成曲线 ( 图 3a) 。 

图 3 :这是 10,000 次仿真结果图形,都在一个限制方框里,方框中心定为 (0,0,0) 。

 
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