一 信號源與Guarding Pin
1電流源
利用額定電流(已知確定的電流)為信號源提供測試R，并量測R電壓值，根據安培定理算出R，此方式以電阻量測最普遍。
2 電壓源
用額定電壓源(已知確定的電壓)為信號源提供測試C或L，量測C或
電流值，此方式以應用在大電容、電感量測最普遍。
$Page_Split$3 Guarding Pin
電流源信號時：電流會在HI-PIN通過C1、R1分流，因此會提供G1、G2點隔離，此時，Vhi=VG1=VG2,因此，GUARD PIN位于HI-PIN串聯點，即高點分枝點。
電壓源信號時：為防止節點LO有外電流通過C1、R1流入，應加G1、G2點隔離，此時，Vlo=VG1=VG2，因此，GUARD PIN位于HO-PIN串聯點，即低點分枝點。
$Page_Split$二 電阻、電容、電感量測原理
1、電阻使用固定電流模式(mode0)，針對相應值提供相應電流，此電流由TCB提供，規格如下：
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范圍
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電流
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1-299.9Ω
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5mA
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300-2.99KΩ
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500uA
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3K -29.9KΩ
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50uA
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30K -299.9KΩ
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5uA
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300K-2.99MΩ
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0.5uA
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3M-40MΩ
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0.1uA
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2、不同阻抗的電容或電感，ICT本身會自動選擇一個適當的頻率AC電壓源作為測試信號源，使用(mode0,mode1,mode2,mode3)以及所對應的測試，已知V，f，量測I，可由公式求出C或L。
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Debug mode
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Signal source
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Capacitor
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(Inductor)
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0
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1KHZ
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400PF-30UF
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6mH-60H
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1
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10KHZ
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40PF-4UF
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600mH以下
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2
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100KHZ
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1PF-40UF
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6mH以下
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3
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1MHZ
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1PF-300PF
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1uH-60uH
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3、 交流相位(AC phase)測試模式(mode3,mode4,mode5)
提供AC電壓源，利用相位角度的領先、落后方式而得知被測電阻值。
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Signal
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Range(L)
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Range(R)
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1KHZ
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600mH-60H
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5Ω-300KΩ
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10KHZ
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60mH-600mH
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5Ω-40KΩ
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100KHZ
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6mH-60mH
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5Ω-4KΩ
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4、低固定電流源(Low constant current)模式(mode1)
該測試方法和固定電流源模式一樣，只是提供的電流大小會低一個數量級，在被測電阻于電路上若有并聯二極體或是IC Clamping diode，對于電阻兩端測量電壓值若超過0.5V-0.7V時，因為二極體導電的關系，該電阻兩端電壓將被維持在0.5V-0.7V左右，只要將原先的電流源降低一級即可。
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Range
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Current
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1-299.9Ω
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500uA
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300-2.99KΩ
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50uA
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3K-29.9KΩ
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5uA
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30K-299KΩ
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0.5uA
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300K-2.99MΩ
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0.1uA
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當V>0.7V時，D會導通，形成分流。
例如：測2K的電阻時，使用 mode0：2K*0.5mA=1V>0.7V,
此時，應選mode1：2K*0.05mA=0.1V<0.7V。$Page_Split$
5、快速(High-Speed)測試模式(mode2)
被測電阻并聯0.3MF以上電容時，用固定電流源測試時，讓電容充電均和，需要花費很長的時間，特別是電阻本身值很大時，測試電流更小，所用時間會更長，解決辦法可以將固定DC電流源改為0.2VDC固定電壓源，直接接于被測電阻兩端，如此短暫霎時間內使其Ic=0，時，V=Ir*R=>R=V/Ir
6、DC固定電流(DC constanr Current)測試模式(mode4)
3UF以上電容值的電容，若使用AC電壓模式測試時，將要較低頻率來測試，而增加ICT測試時間，故可利用電容充電曲線的斜率方式得知電容值。
$Page_Split$7、齊納二極體(zener Diode)測試原理(mode0,mode1)
齊納二極體的測試和二極體的測試一樣，都是TCB提供電壓源，再由DC從兩端量回電壓，其差異只在電壓源不同，其電壓源：
a.0-10V /20mA可程式電壓源
b.0-10V /3mA可程式電壓源
由Vx兩端量負載電壓，齊納二極體反向量測，二極體正向量測。
8、電晶體測試原理
電晶體測試需要三步驟：
a.B-E腳使用二極體測試方式
b.C-E腳使用二極體測試方式
c.E-C腳使用Vcc的飽和電壓值及截止電壓值的不同，來測試電晶體是否反件，需從a.b兩步判斷出電晶體屬NPN或PNP型，Guard點為B腳，Mode選擇NPN或PNP，并測量出E-C腳正向飽和電壓值0.2V左右。
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元件名稱
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高點
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低點
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隔點
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信號
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測試
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Q-B-E
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B
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E
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0
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D
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Q-B-C
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B
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C
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0
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D
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Q-C-E
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C
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E
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B
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4
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Q
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