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BGA封装设计与常见缺陷

放大字体  缩小字体 发布日期:2009-09-23  浏览次数:593
核心提示:正确设计BGA封装 球栅数组封装(BGA)正在成为一种标准的封装形式。人们已经看到,采用0.05至0.06英寸间距的BGA,效果显著。
正确设计BGA封装
 
球栅数组封装(BGA)正在成为一种标准的封装形式。人们已经看到,采用0.05至0.06英寸间距的BGA,效果显著。封装发展的下一步很可能是芯片级封装(CSP),这种封装外形更小,更易于加工。
 
BGA设计规则
 
凸点塌落技术,即回流焊时锡铅球端点下沈到基板上形成焊点,可追溯到70年代中期。但直到现在,它才开始快速发展。目前,Motorola、IBM、Citizen、ASAT、LSI Logic、Hestia和Amkor等公司,除了在自己的产品中使用这种封装,还提供BGA商品。
 
BGA的另一个主要优势是成品率高。Motorola和Compaq等用户声称,在其包含160至225条I/O引线的0.05英寸间距封装中,没有缺陷产生。而其它的全自动工厂中,具有相同I/O引线数的细间距器件的失效率为500或1000PPM。目前正在进一步开发具有400到700条I/O引线的BGA封装,日本甚至报道了1000条I/O引线BGA封装的研发结果。目前,标准还没有完全制定好,JEDEC文件仅对1mm、1.27mm和1.5mm间距作了基本规定。基体的尺寸范围为7至50mm,共面性小于200μm。
 
BGA的局限性
 
许多用户抱怨BGA焊点可视性差。很明显,BGA的焊点不能藉由肉眼检测。实际上,由于零配件引线数不断增加,任何现代电子组装制程都会出现这种情况。采用低成本的X射线装置,以及良好的设计规则,可以进行相对简单的检测。
 
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